MAX11900

16ビット、1Msps、低電力、完全差動SAR ADC

16ビット、低電力、SAR ADC、リファレンスバッファ内蔵


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説明

MAX11900は、リファレンスバッファ内蔵の16ビット、1Msps、シングルチャネル、完全差動SAR ADCです。MAX11900は、スループットに直接比例するクラス最低の消費電力をもち、優れた静的および動的性能を提供します。このデバイスの入力範囲は、ユニポーラ差動±VREFです。供給電源は、リファレンスバッファ用3.3V電源、1.8Vアナログ電源、1.8Vデジタル電源、および1.5V~3.6Vデジタルインタフェース電源が含まれます。

このADCは、95.6dBのSN比と-115dBのTHDを実現し、16ビットの分解能、ミッシングコードなし、および0.5 LSB INL (max)を保証します。

MAX11900は、SPI対応のシリアルインタフェースを使用してデータ通信を行います。MAX11900は、20ピンTQFNパッケージ(4mm x 4mm)で提供され、-40℃~+85℃の温度範囲での動作が保証されています。

MAX11900:アプリケーションダイアグラム MAX11900:アプリケーションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 高いDC/AC精度によって測定品質を向上
    • 分解能:16ビット、ミッシングコードなし
    • スループットレート:1Msps、パイプライン遅延/レイテンシなし
    • SN比:95.6dB、THD:-115dB (10kHz時)
    • 遷移ノイズ:0.4 LSBRMS
    • DNL:±0.25 LSB (max)およびINL:±0.5 LSB (max)
  • 高集積ADCによってコストとスペースを削減
    • リファレンスバッファ内蔵
  • 広い電源範囲と低電力によって電源設計を簡素化
    • アナログ電源:1.8V
    • デジタル電源:1.5V~3.6V
    • 消費電力:6.7mW (1Msps時)
    • 消費電力:6.7µW (1ksps時)
    • シャットダウンモード:1µA
  • 複数の業界標準シリアルインタフェースと小型パッケージによってサイズを小型化
    • SPI/QSPI/MICROWIRE®/DSP対応シリアルインタフェース
    • 20ピンTQFNパッケージ(4mm x 4mm)

アプリケーション/用途

  • 自動試験装置
  • バッテリ駆動機器
  • データ収集システム
  • 医療用計測
  • プロセス制御および産業用オートメーション
  • テレコム
  • 試験および測定

スペックパラメータを参照する: Precision ADCs (< 5Msps) (437)


Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputExternal VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
Bipolar VIN
(±V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxmaxmaxmaxSee Notes
MAX11900 1611000SAR
DSP-Compatible Serial
Microwire
QSPI
SPI
Diff. Only3.63.63.696-1230.5
TQFN/20
$4.78 @1k

価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

MAX11905EVKIT: MAX11900、MAX11901、MAX11902、MAX11903、MAX11904、およびMAX11905の評価キット

ツールおよびモデル

  • MAX11900~5 IBISモデル
  • 製品の信頼性レポート: MAX11900.pdf 
    デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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