MAX1182

リファレンス内蔵、パラレル出力、デュアル10ビット、65Msps、+3V、低電力ADC


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説明

MAX1182は3V、デュアル10ビット、アナログ-ディジタルコンバータ(ADC)で、完全差動広帯域トラック/ホールド(T/H)入力機能を備え、2個のパイプライン化9段ADCをドライブします。このMAX1182は、画像、計測、およびディジタル通信アプリケーションにおいて低消費電力、高ダイナミック性能を発揮するように最適化されています。また、このADCは2.7V~3.6Vの単一電源で動作し、消費電力はわずか195mWですが、入力周波数20MHzとサンプリングレート65Mspsにおいて59dB (typ)の信号対ノイズ比(SN比)を実現しています。T/Hベースの入力段には、400MHz (-3dB)の入力アンプを内蔵しています。さらに、このコンバータは、シングルエンド入力で動作させることもできます。低動作消費電力に加えて、MAX1182は2.8mAスリープモードと1µAパワーダウンモード機能を備え、アイドル期間時に節電することができます。

内部2.048V高精度バンドギャップリファレンスにより、ADCのフルスケール範囲を設定します。リファレンス構造がフレキシブルなので、高精度または異なる入力電圧範囲が必要なアプリケーションの場合は必要に応じて、内部または外部リファレンスのいずれかを使用することができます。

MAX1182は、パラレル、CMOSコンパチブルのスリーステート出力を備えています。ディジタル出力フォーマットは、単一制御ピンにより2の補数またはストレートオフセットバイナリに設定されています。このデバイスは1.7V~3.6Vの別個の出力電源を備え、フレキシブルなインタフェースを実現しています。MAX1182は7mm x 7mm、48ピンTQFPパッケージで提供され、工業用拡張温度範囲(-40℃~+85℃)が保証されています。

また、MAX1182のピンコンパチブル高速/低速バージョンも用意しています。105Mspsバージョンに関してはMAX1180データシート、80Mspsバージョンに関してはMAX1181データシート、40Mspsバージョンに関してはMAX1183データシート、および20Mspsバージョンに関してはMAX1184データシートを参照してください。以上の速度バージョンのほかに、このファミリには、ディジタルデータを単一パラレル10ビット出力ポートに時間インタリーブ方式で渡す20Mspsマルチプレクス出力バージョン(MAX1185)も提供されています。
MAX1182:ファンクションダイアグラム MAX1182:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 単一電源3V動作
  • 優れたダイナミック性能
    • 59dB SN比(fIN = 20MHz)
    • 77dB SFDR (fIN = 20MHz)
  • 低消費電力
    • 65mA (通常動作)
    • 2.8mA (スリープモード)
    • 1µA (シャットダウンモード)
  • 利得0.02dBおよび位相0.25°チャンネル間マッチング(typ)
  • 広差動アナログ入力電圧範囲:±1VP-P
  • 400MHz、-3dB入力帯域幅
  • 2.048V高精度バンドギャップリファレンス内蔵
  • ユーザ選択可能な出力フォーマット:2の補数またはオフセットバイナリ
  • 裏面放熱パッド付き48ピンTQFPパッケージ
  • 評価キットあり

アプリケーション/用途

  • 高画質画像処理
  • I/Qチャネルデジタル化
  • 計測
  • マルチチャネルIFアンダサンプリング
  • ビデオアプリケーション
Part NumberInput Chan.Resolution
(bits)
Sample Rate
(Msps)
AC Specs
(MHz)
SFDR
(dBc)
ENOB
(bits)
SINAD
(dB)
SNR
(dB)
THD
(dB)
DNL
(±LSB)
INL
(±LSB)
Full Pwr. BW
(MHz)
Data Bus InterfacePackage/PinsBudgetary
Price
max ≥@ fINminminminSee Notes
MAX1182 2106520779.4358.559-7611.9400µP/10
TQFP/48
$12.42 @1k
全High-Speed ADCs (> 5Msps) (53)
価格についての注:
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CAD Symbols and Footprints

  • MAX1182ECM+D
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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