MAX1162

10µAシャットダウン付き、16ビット、+5V、200ksps ADC


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説明

The MAX1162 low-power, 16-bit analog-to-digital converter (ADC) features a successive-approximation ADC, automatic power-down, fast 1.1µs wakeup, and a high-speed SPI™/QSPI™/MICROWIRE™-compatible interface. The MAX1162 operates with a single +5V analog supply and features a separate digital supply, allowing direct interfacing with +2.7V to +5.25V digital logic.

At the maximum sampling rate of 200ksps, the MAX1162 consumes typically 2.75mA. Power consumption is typically 13.75mA (AVDD = DVDD = +5V) at a 200ksps (max) sampling rate. AutoShutdown™ reduces supply current to 140µA at 10ksps and to less than 10µA at reduced sampling rates.

Excellent dynamic performance and low power, combined with ease of use and small package size (10-pin µMAX® and 10-pin DFN) make the MAX1162 ideal for battery-powered and data-acquisition applications or for other circuits with demanding power consumption and space requirements.
MAX1162:標準動作回路 MAX1162:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 16-Bit Resolution, No Missing Codes
  • +5V Single-Supply Operation
  • Adjustable Logic Level (+2.7V to +5.25V)
  • Input-Voltage Range: 0 to VREF
  • Internal Track/Hold, 4MHz Input Bandwidth
  • SPI/QSPI/MICROWIRE-Compatible Serial Interface
  • Small 10-Pin µMAX or 10-Pin DFN Package
  • Low Power
    • 2.75mA at 200ksps
    • 140µA at 10ksps
    • 0.1µA in Power-Down Mode

アプリケーション/用途

  • 加速度計測定
  • データ収集
  • 産業用I/Oモジュール
  • 産業用プロセス制御
  • モータ制御
  • ポータブルバッテリ駆動機器
  • 熱電対測定
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputExternal VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxminmaxmaxSee Notes
MAX1162 161200SARSPIS.E. Only3.85.254.09690-904
UMAX/10
$16.95 @1k
全Precision ADCs (< 5Msps) (444)
価格についての注:
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MAX1162EVC16: MAX1162およびMAX1062の評価システム/評価キット
MAX1162EVKIT: MAX1162およびMAX1062の評価システム/評価キット
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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