MAX11311

PIXI、12ポートプログラマブルミックスドシグナルI/O、12ビットADC、12ビットDAC、アナログスイッチ、およびGPIO内蔵

業界初の設定可能な高電圧ミックスドシグナルI/Oでユーザー定義のADC、DAC、またはGPIO機能が可能


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説明

MAX11311は、PIXI、12ビット、マルチチャネル、アナログ-デジタルコンバータ(ADC)と、12ビット、マルチチャネル、バッファ付きデジタル-アナログコンバータ(DAC)を1つの集積回路(IC)に内蔵しています。このデバイスは、ADCアナログ入力、DACアナログ出力、汎用入力(GPI)、汎用出力(GPO)、またはアナログスイッチ端子として設定可能な、12のミックスドシグナル高電圧、バイポーラポートを提供します。1つの内部および2つの外部温度センサーは、ジャンクション温度と環境温度を監視します。隣接するポートのペアは、オープンドレインデバイス用のロジックレベルトランスレータ、またはアナログスイッチとして設定可能です。

PIXIポートは、12ビットミックスドシグナルアプリケーションのための非常に柔軟なハードウェア設定を提供します。MAX11311は、アナログおよびデジタル機能の複合を必要とするアプリケーションに最適です。各ポートは個別に設定可能で、-10V~+10Vの範囲で最大4つの電圧範囲を選択可能です。

MAX11311は、ADCに設定された各ポートから2、4、8、16、32、64、または128のADCサンプルを平均化し、ノイズ性能を向上させることができます。DACに設定された出力ポートは、最大25mAを駆動可能です。GPIOポートは、ユーザー定義のロジックレベルに設定することが可能で、GPIとGPOの組合せによってロジックレベルトランスレータが形成されます。

内部および外部温度測定は、設定可能な下限および上限温度条件を監視し、1つまたは複数の条件が発生した場合、割込みを使用してホストに通知します。温度測定の結果は、シリアルインタフェースを介して利用可能です。

MAX11311は、低ノイズの2.5V電圧リファレンスを内蔵し、DACおよびADC用の個別の入力によって外部電圧リファレンスを使用するオプションも提供します。このデバイスは、4線式、20MHz、SPI対応シリアルインタフェースを使用し、5Vのアナログ電源および1.8V~5.0Vのデジタル電源で動作します。PIXIポートの電源電圧は、広い-12.0V~+12.0Vの範囲で動作します。

MAX11311は、32ピンTQFNパッケージ(5mm x 5mm)または48ピンTQFPパッケージ(7mm x 7mm)で提供され、-40℃~+105℃の温度範囲が保証されています。

FAQs: MAX11300 FAQ:MAX11300
MAX11311:ファンクションダイアグラム MAX11311:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 12の設定可能なミックスドシグナルポートによってプラットフォーム全体の設計の柔軟性を最大化
    • 最大12の12ビットADC入力
      • シングルエンド、差動、または疑似差動範囲オプション:0~2.5V、±5V、0~+10V、-10V~0V
      • 設定可能なADCポートごとのサンプル平均化
      • ADC PIXIポートごとに固有な電圧リファレンス
    • 最大12の12ビットDAC出力
      • 範囲オプション:±5V、0~+10V、-10V~0V
      • 過電流保護付き電流ドライブ性能:25mA
    • 最大12の汎用デジタルI/O
      • GPI入力範囲:0~+5V
      • GPI設定可能なスレッショルド範囲:0~+2.5V
      • GPO設定可能な出力範囲:0~+10V
      • 任意の2端子間のロジックレベルシフト
    • 隣接するPIXIポート間の60Ωアナログスイッチ
    • 内部/外部温度センサー、精度±1℃
  • 特定アプリケーションの要件に適応しシステムニーズの変化に応じて容易に再設定可能
  • 高い機能設定能力によってPCBレイアウトの最適化が可能
  • 小型実装面積、少ない部品数でBOMコストを削減
    • 32ピンTQFN (25mm2)

アプリケーション/用途

  • 基地局RFパワーデバイスバイアスコントローラ
  • 光コンポーネントの制御
  • 産業用制御およびオートメーション
  • 電源監視
  • システム監視および制御

Pricing Notes:
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MAX11311PMB: MAX11311のペリフェラルモジュールMAX11311PMB#
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製品の信頼性レポート: MAX11311.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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