MAX11210

GPIO内蔵、24ビット、シングルチャネル、超低電力、デルタシグマADC

24ビットADCが業界最高レベルのユニット電力当りノイズフリー分解能を提供


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説明

MAX11200/MAX11210は、超低電力(アクティブ電流300µA以下)、高分解能のシリアル出力ADCです。これらのデバイスは、ユニット電力当り業界最高の分解能を提供し、4mA~20mAの産業用制御ループにおけるセンサーのような低電力で非常に高いダイナミックレンジを必要とするアプリケーションに最適です。オプションの入力バッファによって、スイッチトキャパシタサンプリングネットワークから入力信号の絶縁が提供されるため、これらのコンバータは、利用可能なダイナミックレンジまたはリニアリティを犠牲にすることなく、ハイインピーダンスソースで使用することができます。これらのデバイスは高精度の発振器を内蔵しているため、外付け部品は不要です。規定のデータレートで使用した場合、内蔵のデジタルフィルタは、50Hzまたは60Hzラインノイズを100dB以上で除去が可能です。これらのデバイスは、SPIインタフェースを使用して設定可能で、16ピンQSOPパッケージで提供されます。

MAX11200、MAX11210:ファンクションダイアグラム MAX11200、MAX11210:ファンクションダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 超低消費電力によって消費電力を最小化
    • 動作モード消費電流:300µA (max)以下
    • スリープモード消費電流:0.4µA以下
  • 優れたDC/AC精度によって測定品質を向上
    • 有効ビット数:24.0ビット(5sps時)
        ノイズフリー分解能:20.9ビット(10sps時)、19ビット(120sps時)
    • ノイズ:570nVRMS (10sps、±3.6VFS入力時)
    • INL:1ppm (typ)、10ppm (max)、ミッシングコードなし
  • 内蔵機能によってシステムコストを低減
    • プログラマブルゲイン:1~16 (MAX11210)
    • 外部マルチプレクサ制御用の4つのSPI制御GPIO
    • 信号およびリファレンス入力の両方のオプションの入力バッファ
    • 50Hz/60Hz除去:100dB (min)以上
  • 内蔵の自己較正によってシステム精度を向上
    • オンデマンドのオフセットおよびゲインの自己較正およびシステム較正
    • ユーザー設定可能なオフセットおよびゲインレジスタ
  • ±2kV ESD保護によってシステムの堅牢性と信頼性を向上
  • アナログ電源範囲:2.7V~3.6V
  • デジタルおよびI/O電源範囲:1.7V~3.6V
  • 動作温度範囲:-40℃~85℃

アプリケーション/用途

  • バッテリアプリケーション
  • ポータブル計測機器
  • センサ計測(温度および圧力)
  • 重量計
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputExternal VREF
(V)
External VREF
(V)
Unipolar VIN
(V)
Bipolar VIN
(±V)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxminmaxmaxmaxSee Notes
MAX11200 2410.48Sigma-DeltaSPIBoth03.63.63.6160
QSOP/16
$2.72 @1k
MAX11210 10
QSOP/16
$3.01 @1k
全Precision ADCs (< 5Msps) (444)
価格についての注:
このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。


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技術資料

チュートリアル 1870 Demystifying Delta-Sigma ADCs

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX11210.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX11210EEE+
  • MAX11210EEE+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    Package:
    Temperature:

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