MAX11156

18ビット、500ksps、±5V SAR ADC、リファレンス内蔵、TDFNパッケージ

業界最小、真のバイポーラ±5V、18ビットADC


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説明

18ビット、500ksps、SAR ADCのMAX11156は、真のバイポーラ入力範囲、小型、内部リファレンスなどの特長を備え、優れたACおよびDC性能を発揮します。MAX11156は、単一の5V電源で動作し、±5V (10VP-P)入力範囲を測定します。特許取得済みのチャージポンプアーキテクチャによって、ハイインピーダンスソースの直接サンプリングが可能です。MAX11156は、オプションの内部リファレンスとバッファを備え、コストとスペースを節約します。

このADCは、94.6dBのSN比と-101.4dBのTHD (typ)を実現します。MAX11156は、18ビットのミッシングコードなしと±2.8 LSB INL (typ)を保証します。

MAX11156は、2.5V、3V、3.3V、または5VロジックでSPI対応シリアルインタフェースを使用して通信します。このシリアルインタフェースを使用すると、マルチチャネルアプリケーションで複数の並列ADCをデイジーチェーン接続することが可能で、ビジーインジケータオプションによってシステムの同期とタイミングを簡素化することもできます。

MAX11156は、12ピンTDFNパッケージ(3mm x 3mm)で提供され、-40℃~+85℃の温度範囲での動作が保証されています。
MAX11156:標準動作回路 MAX11156:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 高いDCおよびAC精度によって測定品質を向上
    • 分解能:18ビット、ミッシングコードなし
    • スループットレート:500ksps、パイプライン遅延/レイテンシなし
    • SN比:94.6dB、THD:-101.4dB (10kHz時)
    • 遷移ノイズ:1.6 LSBRMS
    • DNL:±0.5 LSB (typ)、INL:±2.8 LSB (typ)
  • 高集積ADCによってコストとスペースを削減
    • リファレンス(6ppm/℃)およびリファレンスバッファ内蔵
    • 内部リファレンスバッファ
    • バイポーラアナログ入力範囲:±5V
  • 広い電源範囲と低電力によって電源設計を簡素化
    • アナログ電源:5V
    • デジタル電源:2.3V~5V
    • 消費電力:25.8mW (500ksps時)
    • シャットダウンモード:10µA
  • 複数の業界標準シリアルインタフェースと小型パッケージによってサイズを小型化
    • SPI/QSPI/MICROWIRE®/DSP対応シリアルインタフェース
    • 小型12ピンTDFNパッケージ(3mm x 3mm)

アプリケーション/用途

  • 自動試験装置
  • データ収集システム
  • 産業用制御システム/プロセス制御
  • 医療用計測
Part NumberResolution
(bits)
Input Chan.Conv. Rate
(ksps)
ADC ArchitectureData BusDiff/S.E. InputInternal VREF
(V)
External VREF
(V)
External VREF
(V)
Bipolar VIN
(±V)
SNR
(dB)
THD
(dB)
INL
(±LSB)
Package/PinsBudgetary
Price
ADCmaxnominalminmaxmaxSee Notes
MAX11156 181500SAR
DSP-Compatible Serial
Microwire
QSPI
SPI
Both4.0962.54.25594.6-1052.5
TDFN/12
$16.90 @1k
全Precision ADCs (< 5Msps) (470)
価格についての注:
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MAX11156EVSYS: MAX11156の評価システム

技術資料

チュートリアル 2094 A Simple ADC Comparison Matrix

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX11156.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

その他リソース

トップマークコード MAX11156

ツールおよびモデル

  • MAX11156 IBIS Model
  • ソフトウェア
    MAX11156 18-bit ADC EV Kit Software  

    CAD Symbols and Footprints

  • MAX11156ETC+
  • MAX11156ETC+T
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    Status:
    Package:
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    関連リソース

    種類 ID PDF タイトル
    チュートリアル 2094 A Simple ADC Comparison Matrix
    種類 ID タイトル
    システムボード5944MAXREFDES74#:18ビット高精度データ収集システム
    評価ボード8188MAX11156EVSYS MAX11156の評価システム