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Part Number | Resolution (bits) | Input Chan. | Conv. Rate (ksps) | ADC Architecture | Data Bus | Diff/S.E. Input | Internal VREF (V) | External VREF (V) | External VREF (V) | Unipolar VIN (V) | Bipolar VIN (±V) | SNR (dB) | THD (dB) | INL (±LSB) | Package/Pins | Budgetary Price | |||||||||||||||||
ADC | max | nominal | min | max | max | max | See Notes | ||||||||||||||||||||||||||
MAX1060 | 10 | 8 | 400 | SAR | µP/8 | Both | 2.5 | 1 | 6 | 2.5 | 1.25 | 61 | -72 | 1 |
| $4.70 @1k | |||||||||||||||||
MAX1064 | 4 |
| $4.50 @1k | ||||||||||||||||||||||||||||||
全Precision ADCs (< 5Msps) (444) | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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デバイス | ウェハープロセス | プロセス技術 | サンプルサイズ | 不合格 | FIT (25°C) | FIT (55°C) |
注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。