MAX105

デュアル、6ビット、800Msps ADC、広帯域入力アンプ内蔵


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説明

MAX105は、同相(I)と直交(Q)のベースバンド信号を高速かつ精密に数値化できるように設計されたデュアル6ビットアナログ-ディジタルコンバータ(ADC)です。MAX105は、IとQ両成分のアナログ信号を800Mspsでディジタル出力に変換するとともに、入力周波数200MHz、積分非線形性(INL)と微分非線形性(DNL)が±0.25 LSBで37dB (標準)の信号対雑音比(SNR)を実現します。MAX105アナログ入力プリアンプは、-0.5dBで400MHz、-3dBで1.5GHzのアナログ入力帯域幅を備えています。チャネル間のマッチング性能は、通常、ゲインが0.04dB、オフセットが0.1 LSB、位相が0.2°です。動的性能は、200MHzのアナログ入力信号と800MHzのサンプリング速度で信号対雑音+歪み(SINAD)が36.4dBです。完全差動コンパレータとエンコーディング回路が、アウトオブシーケンス誤差を低減し、1016クロックサイクル当たりわずか1エラーという優れた準安定性能を保証します。

さらに、MAX105には、出力データ転送速度をサンプルクロック速度の1/2まで低下させる内部6:12デマルチプレクサを備えたLVDSディジタル出力があります。データは2の補数形式で出力されます。MAX105は+5Vアナログ電源で動作し、LVDS出力ポートは+3.3Vで動作します。データコンバータの標準的な消費電力は2.6Wです。このデバイスは、エクスポーズドパッド付きの80ピンTQFPパッケージで提供され、広温度範囲(-40℃~+85℃)の仕様となっています。MAX105の低速400Mspsバージョンについては、MAX107のデータシートを参照して下さい。
MAX105:ピン配置 MAX105:ピン配置 拡大表示+

主な特長

  • 整合した2つの6ビット800Msps ADC
  • 優れた動的性能
    • fIN ≈ 200MHz、fCLK ≈ 800MHzで
    • 36.4dB SINAD
  • 標準INLとDNL:±0.25 LSB
  • チャネル間の位相整合:±0.2°
  • チャネル間のゲイン整合:±0.04dB
  • 6:12デマルチプレクサがデータ転送速度を400MHzに低減
  • 低い誤差発生率:800Mspsにて1016準安定状態
  • 2の補数形式のLVDSディジタル出力

アプリケーション/用途

  • 通信システム
  • 試験装置
  • VSATレシーバ
  • ワイヤレスローカルエリアネットワーク(WLAN)
Part NumberInput Chan.Resolution
(bits)
Sample Rate
(Msps)
AC Specs
(MHz)
SFDR
(dBc)
ENOB
(bits)
SINAD
(dB)
SNR
(dB)
THD
(dB)
DNL
(±LSB)
INL
(±LSB)
Full Pwr. BW
(MHz)
ICC
(mA)
Data Bus InterfacePackage/PinsBudgetary
Price
max ≥@ fINminminmintypSee Notes
MAX105 26800200455.836.437-44.50.250.2400650
µP/8
Demuxed
LVPECL
TQFP/80
$37.97 @1k
全High-Speed ADCs (> 5Msps) (61)
価格についての注:
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技術資料

チュートリアル 810 Understanding Flash ADCs
チュートリアル 800 Design a Low-Jitter Clock for High-Speed Data Converters
アプリケーションノート 642 1Gspsを取込むADC
チュートリアル 283 高速アナログ-ディジタルコンバータ(ADC)のINL/DNL測定

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX105.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

CAD Symbols and Footprints

  • MAX1057BETM
  • MAX1057BETM+
  • MAX1057BETM+T
  • MAX1057BETM-T
  • MAX1058BETM
  • MAX1058BETM+
  • MAX1058BETM+T
  • MAX1058BETM-T
  • MAX105ECS+
  • MAX105ECS+T
  • MAX105ECS-D
  • MAX105ECS-TD
  • デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

    注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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    関連リソース

    種類 ID PDF タイトル
    チュートリアル 810 Understanding Flash ADCs
    チュートリアル 800 Design a Low-Jitter Clock for High-Speed Data Converters
    アプリケーションノート 642 1Gspsを取込むADC
    チュートリアル 283 高速アナログ-ディジタルコンバータ(ADC)のINL/DNL測定
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    評価ボード3119MAX105EVKIT MAX105およびMAX107の評価キット