DS2450

1-WireクワッドA/Dコンバータ


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説明

1-Wire®クワッドA/DコンバータDS2450は、4:1アナログマルチプレクサを備えた逐次比較型アナログ-ディジタルコンバータに基づいています。入力電圧範囲、分解能、アラームしきい値を保管するレジスタセットと、入力電圧が指定範囲を超えた場合にConditional Searchでのデバイス参加を使用可能にするフラグを、入力チャネルはそれぞれ備えています。各チャネルの2つのアラームフラグは、バスマスタによる照合を必要とせずに、測定電圧が高すぎるか、低すぎるかを示します。各A/D変換は、バスマスタにより開始されます。アナログ入力として未使用のチャネルは、ディジタルオープンドレイン出力として利用することができます。入力を使用不可にすると、選択したチャネルでオープンドレイントランジスタのスイッチをバスマスタが直接オン/オフすることができます。1-WireバスやVCCピンを通じてデバイスに電源供給されている限り、デバイスの設定はすべて不揮発状態でSRAMに保管されています。電源投入リセットフラグ信号の電源をオンにした後、標準動作が再開する前にバスマスタはデバイス設定を復元する必要があります。すべてのレジスタおよび変換読出しレジスタは、DS2505/6デバイスの状態メモリとよく似た3つの8バイトメモリページとして管理されています。各バイトの書込み時だけでなく、メモリページの末尾まで読み込む際にも、オンチップCRC16生成器は、送信エラーが発生しないように通信を保護しています。
DS2450:ブロックダイアグラム DS2450:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 1-Wireバス上のアナログ電圧を測定する4つのハイインピーダンス入力
  • ユーザプログラマブルな、入力範囲(2.56V、5.12V)、分解能(1~16ビット)、およびアラームしきい値
  • 5Vの単一電源動作
  • 超低電力:動作時2.5mW、アイドル時25µW
  • 内蔵マルチドロップコントローラにより、共通の1-Wireバス上で複数DS2450の識別および動作が可能
  • アナログ電圧がアラームしきい値を超えると、Conditional Searchに応答
  • アナログ入力として未使用のチャネルは、閉ループ制御用のオープンドレインディジタル出力として機能可能
  • マイクロプロセッサの単一ポートピンと直接接続し、最大16.3kbpsで通信
  • Overdriveモードにより、通信速度が142kbpsに上昇
  • データ転送を保護するオンチップ16ビットCRC生成器
  • 出荷時にレーザ書き込みおよびテスト済みのユニークな64ビット登録番号(8ビットファミリコード + 48ビットシリアル番号8ビットCRCテスタ)により、類似パーツがなくなり、完全追跡性を確保
  • 8ビットファミリコードで、バスマスタとのデバイス通信要件を指定
  • 動作温度範囲:-40℃~+85℃
  • 小型、低コスト、8ピンSOIC表面実装パッケージ

技術資料

リファレンス回路図 4477 1.8Vから5Vへの1-Wire®双方向電圧レベル変換器のリファレンスデザイン
チュートリアル 4255 1-Wire®デバイスの拡張機能に対する給電方法
アプリケーションノート 3989 ひとつの接点で制御とメモリ、セキュリティ、ミックスドシグナル機能を追加
アプリケーションノート 1100 白書5:データシートコマンドに対する1-Wire APIの使用
アプリケーションノート 1097 白書2:1-Wire®パブリックドメインキットの使用
リファレンス回路図 244 高度1-Wireネットワークドライバ
アプリケーションノート 192 シリアル1-Wire®ラインドライバDS2480Bの使用
アプリケーションノート 187 1-Wire 検索アルゴリズム
アプリケーションノート 158 1-Wire® Tagging with XML
アプリケーションノート 155 1-Wireソフトウェアリソースガイドデバイス解説
チュートリアル 148 高信頼性長距離配線1-Wireネットワークのガイドライン
アプリケーションノート 126 ソフトウェアを介した1-Wire通信
アプリケーションノート 74 Reading and Writing 1-Wire® Devices Through Serial Interfaces
アプリケーションノート 27 マキシムの1-WireおよびiButton製品に用いる巡回冗長検査(CRC)の理解と用法

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: DS2450.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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関連リソース