MAX14539E

負レイルを備えた、低抵抗DPDTスイッチ

小型実装面積、最も堅牢な負レイルオーディオスイッチ


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説明

MAX14535E~MAX14539Eは、AC結合されたオーディオまたはビデオなどのアナログ信号を多重化する、低オン抵抗および高ESD保護のDPDTスイッチです。これらのデバイスは、ポータブル電子機器の高性能なスイッチングアプリケーションに必要な低オン容量(CON)および低オン抵抗(RON)を合わせ持ち、グランド以下(最低-1.5V)まで振幅するオーディオ信号を通過させる負電源を内蔵しています。

MAX14535E/MAX14537E/MAX14539Eは、ノーマリオープン経路(およびノーマリクローズ経路(MAX14539E))にシャント抵抗を内蔵しており、出力時に聞こえるクリック/ポップ音を抑制します。MAX14535E~MAX14539Eは、イネーブル入力(EN)を備えており、消費電流を低減し、ローで駆動された場合にすべてのチャネルをハイインピーダンスに設定します。ENがローに駆動された場合、MAX14537E/MAX14538Eの消費電流は可能な限り最小となりますが、負レイル信号に耐えることはできません。MAX14535E/MAX14536E/MAX14539Eは、-1.5V~(VCCまたは3Vの低いほう)の範囲で、NC_、NO_、またはCOM_への負信号にも耐えることができます。

MAX14535E~MAX14539Eは、+2.4V~+5.5Vの電源で動作します。これらのデバイスは、携帯電話の標準的なアナログ電源電圧(+2.5V~+2.8V)またはリチウムイオン(Li+)バッテリ(約4.3V max)で駆動することができます。MAX14535E~MAX14539Eは、COM_に最大±15kVの高いESD保護を備えており、NC_、NO_、およびCOM_電圧は、これらのデバイスを損傷することなく、VCC = 0Vの場合最大3.6Vまで上昇することができます。

全てのデバイスは、省スペース、1.4mm x 1.8mmの10ピンUTQFNパッケージで提供され、-40℃~+85℃の拡張温度範囲での動作が保証されています。
MAX14535E、MAX14536E、MAX14537E、MAX14538E、MAX14539E:標準動作回路 MAX14535E、MAX14536E、MAX14537E、MAX14538E、MAX14539E:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 低オン抵抗:0.135Ω (typ)
  • 低RON平坦性:0.3mΩ (typ)
  • 単一電源電圧:+2.4V~+5.5V
  • -1.5V~(VCCまたは3Vの低いほう)でオーディオ信号の通過
  • クリック/ポップ抑制のための内部シャント抵抗(MAX14535E/MAX14537E/MAX14539E)
  • VCC = 0VのときのNC_、NO_、およびCOM_の耐圧:3.6V (max)
  • 高いESD保護:最大±15kV (COM_で)
  • 10ピンUTQFNパッケージ(1.4mm x 1.8mm)
  • 動作温度範囲:-40℃~+85℃

アプリケーション/用途

  • 携帯電話
  • MP3プレーヤー
  • ノートブックコンピュータ
  • PDA

スペックパラメータを参照する: Switches and Multiplexers ≤ 5V (165)


Part NumberProtocolConfig.ChannelsVSUPPLY (Single)
(V)
VSUPPLY (Single)
(V)
VSIGNAL
(V)
VSIGNAL
(V)
Dynamic Range (max)
(V)
RON
(Ω)
RFLAT(ON)
(Ω)
IL(OFF)
(nA)
tON
(ns)
tOFF
(ns)
CON
(pF)
COFF
(pF)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxminmaxmaxmaxtypmaxmaxmaxSee Notes
MAX14535E Audio
2-to-1
DPDT
22.45.5-1.534.50.350.0003109000040000250250
ULTRA TQFN/10
-
MAX14536E 
ULTRA TQFN/10
$1.83 @1k

価格についての注:
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MAX14535EEVKIT: MAX14535Eの評価キット
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デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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