MAX9972

クワッド、超低電力、300Mbps ATEドライバ/コンパレータ

メモリ、バーンイン、および構造自動試験装置用、低コスト、低電力ATEピンエレクトロニクス


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説明

MAX9972は4チャネルで超低電力のピンエレクトロニクスICで、チャネルごとに3レベルのピンドライバ、ウィンドウコンパレータ、受動負荷、およびフォース/センスケルビンスイッチパラメ−タ測定ユニット(PMU)接続を備えています。このドライバは-2.2V~+5.2Vの電圧範囲を備え、ハイインピーダンスおよびアクティブ終端(第3レベル駆動)モードを搭載し、低電圧振幅でも高いリニアリティを維持します。ウィンドウコンパレータは、500MHzの等価入力帯域幅と可変出力電圧レベルが特長です。受動負荷によってプルアップおよびプルダウン電圧が被測定デバイス(DUT)に供給されます。

低リーク、ハイインピーダンス、および終端制御は、3線式で低電圧のCMOSコンパチブルのシリアルインタフェースを通じて設定される動作構成です。高速PMUスイッチングは、専用のデジタル制御入力によって行われます。

これらのデバイスは、ボディーサイズ12mm x 12mm、ピッチ1.0mmの80ピンTQFPパッケージで提供され、このパッケージの下部に6mm x 6mmのエクスポーズドダイパッドが取り付けられ、放熱を効率化します。MAX9972は、0℃~+70℃の民生用温度範囲での動作が保証され、ダイ温度モニタ出力を備えています。
MAX9972:ブロックダイアグラム MAX9972:ブロックダイアグラム 拡大表示+

主な特長

  • 小さい実装面積:0.3in²に4チャネル
  • 低電力損失:1チャネル当り325mW (typ)
  • 高速:300Mbps (3VP-Pの場合)
  • 動作範囲:-2.2V~+5.2V
  • アクティブ終端(第3レベル駆動)
  • PMUスイッチ内蔵
  • 受動負荷
  • 低リークモード:20nA (max)
  • 小さい利得およびオフセット誤差

アプリケーション/用途

  • アクティブ・バーンインシステム
  • DRAMプローブテスタ
  • 低コストミックスドシグナル/システムオンチップ(SoC)テスタ
  • NANDフラッシュテスタ
  • 構造テスタ

品質および環境データ

製品の信頼性レポート: MAX9972.pdf 
鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート

その他リソース

お客様成功事例:Digital Frontier ›


デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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