MAX40056は双方向電流検出アンプで、-0.1V～+65Vにわたる入力コモンモード範囲と、-5Vまでの負の誘導性キックバック電圧に対する保護を備えています。このCSAは、パルス幅変調を使用して駆動電圧および電流を制御する、モーターやソレノイドなどの誘導性負荷の位相電流監視に最適です。MAX40056は改良された手法を使用し、最大±500V/µsおよびそれ以上のスルーレートでコモンモード入力PWMエッジの除去に役立ちます。コモンモード除去比(CMRR)は、60dB (typ、50V、±500V/µs入力)および140dB DC (typ)です。

MAX40056は、公称+3.3V電源で使用する内部+1.5Vリファレンスを備えています。このリファレンスは、隣接する差動ADCの駆動に使用することも可能です。このリファレンスは、検出された入力電流の方向を示すための出力のオフセットに使用されます。REF端子は外部負荷に電流を供給可能で、リファレンス電圧をノイズの多いPCB内に配線することによる性能の劣化を防ぐために役立ちます。あるいは、より高い電源電圧およびより大きいフルスケール出力振幅の場合、より高電圧の、外部リファレンスによって、内部リファレンスをオーバーライドすることも可能です。

内部または外部リファレンスを使用して、内蔵過電流コンパレータのトリップスレッショルドを定義することができます。これによって、過電流フォルト状態を瞬時に表示することができます。

MAX40056は、-40℃～+125℃の温度範囲全体にわたって、+2.7V～+5.5Vの電源電圧で動作します。このデバイスは、8ピンウェハレベルパッケージ(WLP) (2.02mm × 1.4mm)および8ピンµMAXパッケージで提供されます。

デザインソリューション：How Less Can Be More in Motor Control Design ›

MAX40056F、MAX40056T、MAX40056U：簡易ブロックダイアグラム

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主な特長

高速PWMエッジ回復：500ns (500V/µs PWMエッジから)
AC CMRR除去：60dB (50V、±500V/µs PWMエッジ)
DC CMRR除去：140dB
入力電圧範囲：-0.1V～+65V
保護耐圧：-5V～+70V
-3dB帯域幅：300kHz
複数の利得オプション：10V/V、20V/V、50V/V
双方向オフセット用の内部1%リファレンス
入力オフセット電圧：5µV (typ)
レール・ツー・レール出力
8ピンWLP (2.02mm × 1.4mm)および8ピンµMAX
温度範囲：-40℃～+125℃

アプリケーション/用途

車載用
バッテリスタックモニタ
誘導負荷の電流監視
PWM Hブリッジモーターインライン/同相/巻線電流検出
ソレノイド電流検出

スペックパラメータ

Part Number

Output Format

CMVR
(V)

V_CC
(V)

I_CC
(µA)

Bi-Dir. Curr. Sense

V_{SENSE_FS}
(mV)

V_OS @25°C
(µV)

Gain

Gain Accuracy @25°C
(%)

BW
(kHz)

Comp-
arators

Reference

Oper. Temp.
(°C)

Package/Pins

Budgetary
Price

min

max

min

max

typ

recomm.

max

@ -3dB

See Notes

MAX40056F

Voltage

-0.1

2.7

5.5

6000

Yes

+/-50

50 V/V

1.5

300

1.5V

External

-40 to +125

UMAX/8

$1.19 @1k

全Current Sense Amplifiers (51)

価格についての注：

このページに掲載された価格は、類似製品と比較するための参考価格です。価格は米国ドルで表記されており変更されることがあります。購入数によって価格は大幅に変わることがあり、米国以外での価格は各地域の関税、税金、手数料、および為替レートによって異なることがあります。購入数やバージョンが確定されている場合の価格および在庫状況については、購入に関するページを参照いただくか正規代理店までお問い合わせください。

設計リソース

MAX40056EVKIT: MAX40056F、MAX40056T、MAX40056Uの評価キット

品質および環境情報

デバイス	ウェハープロセス	プロセス技術	サンプルサイズ	不合格	FIT (25°C)	FIT (55°C)

注：不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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