ICL7634

シングル/デュアル/トリプル/クワッドオペアンプ


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説明

The ICL761X–ICL764X family of monolithic CMOS op amps combine ultra-low input current with low-power operation over a wide supply voltage range. With pinselectable quiescent currents of 10µA, 100µA, or 1000µA per amplifier, these op amps will operate from ±1V to ±8V power supplies, or from single supplies from 2V to 16V. The CMOS outputs swing to within millivolts of the supply voltages.

The ultra-low bias current of 1pA makes this family of op amps ideal for long time constant integrators, picoammeters, low droop rate sample/hold amplifiers and other applications where input bias and offset currents are critical. A low noise current of 0.01pA and an input impedance of 1012Ω ensure optimum performance with very high source impedances in such applications as pH meters and photodiode amplifiers.
ICL761X、ICL762X、ICL763X、ICL764X:標準動作回路 ICL761X、ICL762X、ICL763X、ICL764X:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • Pin-for-Pin Second Source
  • 1pA Typical Bias Current—4nA (max) at +125°C
  • ±1V to ±8V Wide Supply Voltage Range
  • Industry-Standard Pinouts
  • Programmable Quiescent Currents of 10µA, 100µA, and 1000µA
  • Monolithic, Low-Power CMOS Design

アプリケーション/用途

  • バッテリ駆動機器
  • 補聴器およびマイクロフォンアンプ
  • 長時間定数積算器
  • 低ドループレートサンプル/ホールドアンプ
  • 低周波アクティブフィルタ
  • 低リークアンプ
  • ピコアンメータ
Part NumberAmps.Rail to RailVSUPPLY (Total)
(V)
VSUPPLY (Total)
(V)
ICC per Amp.
(µA)
VOS
(µV)
CMRR @DC
(dB)
PSRR @DC
(dB)
Low Input Bias CMOS InputsInput IBIAS
(nA)
Unity Gain BW
(MHz)
Slew Rate
(V/µs)
en
(nV/√Hz)
Package/PinsBudgetary
Price
minmaxtypmaxtyptypmaxtyptyp<See Notes
ICL7611 1Output Only216620008080Yes0.050.0440.016100
MET.CAN/8
PDIP/8
SOIC (N)/8
$2.32 @1k
ICL7612 1Output Only
GOLD CAN/8
PDIP/8
SOIC (N)/8
$2.43 @1k
ICL7621 2Output Only
PDIP/8
SOIC (N)/8
$1.71 @1k
ICL7622 2Output Only
PDIP/14
$2.30 @500
ICL7631 3Output Only
PDIP/16
SOIC (N)/16
-
ICL7641 4-
CDIP/14
PDIP/14
SOIC (W)/16
$2.20 @1k
ICL7642 4Output Only
CDIP/14
PDIP/14
SOIC (W)/16
$7.83 @1k
全Operational Amplifiers (174)
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品質および環境データ

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鉛フリーパッケージの錫(Sn)のウィスカレポート
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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環境管理システム >

 
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