DS1861

障害管理付き完全レーザ制御


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説明

DS1861は、多数の温度試験をなくして、光ファイバ回路の製造コストを削減するために設計されたレーザドライバ制御用ICです。このICはほぼすべてのレーザドライバICと連携して動作し、自動パワー制御(APC)および自動消光比制御(AERC)を備えているため、温度および経時変化に対してシステムの性能が向上します。また早期障害検出を行う監視機能も内蔵し、このICをシャットダウン状態にラッチするように構成することができます。DS1861にプログラムされた設定値はパスワード保護されたEEPROMメモリに保存され、キャリブレーションデータが書込み保護されます。設定はI²C対応インタフェースを通じて行われ、このインタフェースを通じて診断情報を読み取ることもできます。
DS1861:標準動作回路 DS1861:標準動作回路 拡大表示+

主な特長

  • 自動パワー制御(APC)
  • 温度およびレーザ経時変化に対して自動消光比制御(AERC)
  • AC結合レーザシステムで動作
  • Tx障害およびTxディセーブルによるラッチ付き自動シャットダウンを構成可能
  • プログラマブルな高速アラーム条件
  • I²C対応シリアルインタフェースにより、同一のシリアルバス上に最大8つのデバイスを接続可能
  • 広い電源電圧範囲で動作
  • デバイス設定用の不揮発性メモリ
  • 14ピン小型TSSOPパッケージ
  • 動作温度範囲:-40℃~+95℃

アプリケーション/用途

  • 光トランシーバ
  • 光トランスポンダ
製品の信頼性レポート: DS1861.pdf 
デバイス   ウェハープロセス   プロセス技術   サンプルサイズ   不合格   FIT (25°C)   FIT (55°C)   Material Composition  

注: 不良率はプロセス技術ごとにまとめられ、関連する型番にマッピングされます。 不良率はテストされたユニット数に大きく依存します。

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