自動試験装置


自動試験装置(ATE)とは、生産品の組立てライン型試験を行うために使用されるあらゆる機器を指します。一般に、この言葉は製造工程でのICおよびプリント基板の試験に使用される機器に適用されます。自動試験装置には、PCで駆動される小型で固定用途の専用テスターから、数百万ドルする完全プログラマブルな大型の装置まで、さまざまなものがあります。



アプリケーション


テストピンは試験対象デバイス(DUT)に接続され、信号を注入または測定します。ピンドライバの速度と分解能およびサポートされるピンの数によって、試験装置の能力が決まります。マキシムのピンドライバは、主として半導体デバイス試験装置で使用するために設計されています。

ATEピンドライバ 


注目製品


35mA負荷内蔵、デュアル、低電力、500Mbps ATEドライバ/コンパレータ

MAX9967

このデュアル、低電力、高速、ピンエレクトロニクスドライバ/コンパレータ/負荷(DCL) ICは、各チャネルに対し、3レベルのピンドライバ、デュアルコンパレータ、可変クランプ、およびアクティブ負荷を内蔵しています。

クワッド、超低電力、200Mbps ATEドライバ/コンパレータ

MAX19005

この4チャネル、超低電力、ピンエレクトロニクスICは、各チャネルに対し、2レベルのピンドライバ、ウィンドウコンパレータ、受動負荷、およびフォース/センスケルビンスイッチパラメータ測定ユニット(PMU)接続を内蔵しています。

PMUおよびレベル設定DAC内蔵、デュアル1.1Gbpsピンエレクトロニクス

MAX9979

この全機能内蔵、高性能、デュアルチャネルピンエレクトロニクスICは、ドライバ/コンパレータ/負荷(DCL)、パラメータ測定ユニット(PMU)、および内蔵(16ビット)レベル設定デジタル-アナログコンバータ(DAC)を含む複数の自動試験装置(ATE)機能を1つのICに内蔵しています。


ソリューション


マキシムのATEソリューションの中から、ATE機器用の推奨製品をご覧ください。

タイミング ドライバ/コンパレータ/ロード・ピンエレクトロニクス カスタムASICソリューション 電圧リファレンス 低速DAC (レベル設定用) 低速DAC (レベル設定用) 低速ADC (DC測定ユニット用) スイッチおよびマルチプレクサ(全電圧範囲で低抵抗変化) PMU スイッチおよびマルチプレクサ(全電圧範囲で低抵抗変化) デバイス電源

関連リソース