アプリケーションノート 4303

ケーブル損失の影響

筆者: Bernard Hyland

要約: 多ピン自動試験装置(ATE)の設計/構築/出荷を行う試験機器の企業が多く存在します。これらのテスタは、テスタの各ピンを駆動する複合ICを内蔵しています。1つのテスタは4096個ものピンを持つことができます。図1は、各ピンに、通常はドライバ、コンパレータ、負荷、多くの場合はパラメータ計測ユニット(PMU)も内蔵されることを示しています。これらのエレクトロニクスがケーブルに装着されて、ケーブルはピンに接続されます。コスト削減を維持するために、ベンダーは低品質のケーブルの使用を選択することができます。すべてのケーブル、特に低品質のケーブルは、テスタの最高性能を低減する信号損失の影響を受けます。