MAX993

微功耗、低电压、UCSP/SC70封装、满摆幅输入/输出比较器


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说明

MAX985/MAX986/MAX989/MAX990/MAX993/MAX994单/双/四微功耗比较器可低电压工作,输入输出可达满摆幅。工作电压范围为2.5V至5.5V,适用于采用3V和5V电源的系统。它们也可工作于±1.25V至±2.75V的双电源下。电流消耗仅为11µA,传输延迟时间为300ns。

典型输入偏置电流为1.0pA,典型输入失调电压为0.5mV。内部滞回可保证即使在慢输入信号下也能实现干净的输出切换。

独特的输出级设计可以限制开关时的电源浪涌电流,从根本上消除了电源扰动(普遍存在于其他类型的比较器)。MAX985/MAX989/MAX993具有推挽式输出级,可以吸收和源出电流。内部输出驱动器在推动8mA负载时输出能达到满摆幅。MAX986/MAX990/MAX994为开漏输出级,输出可被上拉超过VCC,最高可达到VEE以上6V。这些具有开漏输出的器件适用于电平转换器和双极至单端转换器。

单比较器MAX985可提供晶片级封装(UCSP™),可显著缩减占用PCB的面积。单比较器MAX985/MAX986也提供5引脚SC70封装,双比较器MAX989/MAX990提供8引脚SOT23封装。
MAX985、MAX986、MAX989、MAX990、MAX993、MAX994:典型工作电路 MAX985、MAX986、MAX989、MAX990、MAX993、MAX994:典型工作电路 放大+

关键特性

  • 低静态电流:11µA
  • 2.5V至5.5V单电源供电
  • 共模输入电压范围可超出电源250mV
  • 300ns传输延迟
  • 推挽式输出级吸收和源出电流能力达8mA (MAX985/MAX989/MAX993)
  • 开漏输出电压可超过VCC (MAX986/MAX990/MAX994)
  • 独特的输出级设计减小了输出切换电流,降低了总功耗
  • 1MHz开关频率时,电源电流80µA
  • 输入过驱动时不发生输出反相
  • 提供节省空间的封装:
    • UCSP封装(MAX985)
    • SOT23封装(MAX985/MAX986/MAX989/MAX990)
    • µMAX®封装(MAX989/MAX990)

应用

  • 数字线接收器
  • 地/电源检测
  • IR接收器
  • 电平转换器
  • 移动通信
  • 便携式电池供电系统
  • 门限检测器
  • 窗比较器
  • 过零检测器
Part NumberComp-
arators
tPD
(ns)
Input RangeVSUPPLY (Total)
(V)
VSUPPLY (Total)
(V)
ICC per Comp.
(µA)
VOS
(mV)
VOS
(mV)
Logic OutOper. Temp.
(°C)
Package/PinsBudgetary
Price
typminmaxmaxtypmaxSee Notes
MAX985 1300
Rail to Rail
to Neg. Rail
2.55.5200.55Push-Pull-40 to +85
SC70/5
SOIC (N)/8
SOT23/5
UCSP (B)/6
$0.55 @1k
MAX986 1Open Drain
SC70/5
SOIC (N)/8
SOT23/5
$0.80 @1k
MAX989 2Push-Pull
SOIC (N)/8
SOT23/8
UMAX/8
$1.15 @1k
MAX990 2Open Drain
SOIC (N)/8
SOT23/8
UMAX/8
$1.12 @1k
MAX993 4Push-Pull
SOIC (N)/14
TSSOP/14
$2.07 @1k
MAX994 4Open Drain
SOIC (N)/14
TSSOP/14
$1.90 @1k
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Pricing Notes:
价格仅供参考,用于同类产品的比较。所提供报价为美元,需要依汇率折合成人民币。该价格将因当地关税、税率和汇率而异。有关特定订购量和指定版本的报价和供货问题,请参考:价格与供货网站或与指定代理商联系。

质量和环境数据

申请可靠性报告: MAX993 
无铅封装的锡(Sn)晶须报告

CAD Symbols and Footprints

  • MAX993ESD+
  • MAX993ESD+T
  • MAX993EUD+
  • MAX993EUD+T
  • MAX993EUD/GG8
  • 型号   生产流程   工艺   样本量   不合格   FIT @ 25°C   FIT @ 55°C  

    备注: 通过技术手段对故障率进行汇总,并映射到相关的材料部件号。 故障率与被测件的数量密切相关。

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