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四通道、超低功耗、200Mbps ATE驱动器/比较器

低成本、低功耗ATE引脚电子,用于存储器、结构自动测试设备

产品详情

主要特征

应用/用途

Parametric specs for ATE Pin Electronics
Drvr./ Comp./ Load D/C/L
# Channels 4
PDISS (W) (per chan.) .34
VDUT (V) (min) -1
VDUT (V) (max) 5.2
Drive Levels 1
3
ROUT (Ω) 49.5
Drvr. PW (3Vp-p) (ns) (min) 2.6
Drvr. tRISE (3Vp-p) (ns) 2
Comparator Dispersions (ps) 60
Load Type Passive
Load (max) 4
Prog. Drvr. Slew Rate No
Comparator Configuration Window
Clamps No
Integ. PMU I/F Yes
Package/Pins TQFP/80
Budgetary
Price (See Notes)
35.78
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Parametric specs for ATE Pin Electronics
Drvr./ Comp./ Load D/C/L
# Channels 4
PDISS (W) (per chan.) .34
VDUT (V) (min) -1
VDUT (V) (max) 5.2
Drive Levels 1
3
ROUT (Ω) 49.5
Drvr. PW (3Vp-p) (ns) (min) 2.6
Drvr. tRISE (3Vp-p) (ns) 2
Comparator Dispersions (ps) 60
Load Type Passive
Load (max) 4
Prog. Drvr. Slew Rate No
Comparator Configuration Window
Clamps No
Integ. PMU I/F Yes
Package/Pins TQFP/80
Budgetary
Price (See Notes)
35.78

主要特征

  • 小封装: 0.3in²内集成了四个通道
  • 低功耗: 340mW/通道(典型值)
  • 高速: 3VP-P供电时,支持200Mbps
  • -1V至+5.2V电压范围
  • 集成引脚开关(-1V至+24V关闭范围)
  • 集成PMU开关(-1V至+24V工作范围)
  • 无源负载
  • 通过引脚控制关闭的低漏电流模式:10nA (最大值)
  • 超低增益误差和失调误差

应用/用途

  • 有源老化系统
  • DRAM探测器
  • 低成本混合信号/片上系统(SoC)测试器
  • NAND闪存测试器
  • 结构测试装置

描述

MAX19005为四通道、超低功耗引脚电子IC,包括两级引脚驱动器、一个窗比较器、一路无源负载和连接每个通道的加载感应开尔文开关参数测量单元(PMU)。驱动器具有-1V至+5.2V电压范围,提供高阻抗模式,即使在低压摆幅下也可保持高线性指标。窗比较器具有240MHz等效输入带宽,可编程输出电压。无源负载为被测件(DUT)提供上拉和下拉。

通过3线、低压、CMOS兼容串口选择低漏电流、高阻抗配置,高速PMU开关通过专用的数字输入控制。

器件提供80引脚、12mm x 12mm、0.5mm引脚间距的TQFP封装,底部带有6mm × 6mm裸焊盘,帮助改善散热。器件工作在0°C至+70°C商业级温度范围,提供管芯温度监测输出。

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MAX19005: Block Diagram MAX19005: Block Diagram Zoom icon

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