自动测试设备


自动测试设备(ATE)是指用于对产品进行装配线测试的所有设备,通常指制造过程中用于测试集成电路和印刷电路板的设备,可能是小型PC驱动固定用途测试仪,也可能是几百万美元的大型可编程机械设备。



应用


测试引脚连接至被测设备(DUT),注入或测量信号。引脚驱动器的速度、分辨率以及支持的引脚数量决定了测试设备的能力。我们的引脚驱动器设计主要用于半导体器件测试设备。

ATE引脚驱动器 


精选产品


双通道1.1Gbps引脚电子,集成PMU和电平设置DAC

MAX9979

完全集成、高性能、双通道引脚电子IC在单芯片内集成了多项自动测试设备(ATE)功能,包括驱动器/比较器/负载(DCL)、参数测量单元(PMU)和内部(16位)电平设置数/模转换器(DAC)。

四通道、超低功耗、200Mbps ATE驱动器/比较器

MAX19005

四通道、超低功耗、引脚电子IC包括两级引脚驱动器、窗比较器、无源负载,以及连接每个通道的加载-感应开尔文开关参数测量单元(PMU)。

双通道、低功耗、500Mbps ATE驱动器/比较器,带有35mA负载

MAX9967

双通道、低功耗、高速、引脚电子驱动器/比较器/负载(DCL) IC的每个通道含一个三电平引脚驱动器、一个双路比较器、可调箝位电路以及一个有源负载。


方案


了解我们的ATE方案,查找针对ATE设备的推荐产品。

Timing Driver/Comparator/Load Pin Electronics Custom ASIC Solutions Voltage References Low-Speed DACs (for Level-Setting) Low-Speed DACs (for Level-Setting) Low-Speed ADCs (for DC Measurement Units) Switches and Muxes (Low Resistance Variation Over Voltage Range) PMU Switches and Muxes (Low Resistance Variation Over Voltage Range) Device Power Supplies ATE方案框图

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