应用笔记 4646

利用热分析预测IC的瞬态效应并避免过热

By: Milind Gupta

摘要 : 本文提出了一种预测IC热性能的方法。这些信息对于汽车及其它高温环境下使用的PMIC (电源管理IC)尤为有用。通过分析热性能,我们设计了一种数学模型用于仿真芯片内部的瞬态温度。我们引入了关于热性能的物理定律,并用于评估IC的发热模型。基于这些分析,我们提出了一种等效的无源RC网络,用于仿真IC瞬态热性能的模型。为了阐述这一分析的应用,我们设计了一个用于LED驱动(MAX16828)的RC网络。最后总结了这种方法的使用和有效性,并提出了加速构建RC模型的途径。